XRD-7000

Además del análisis cualitativo y cuantitativo básico, el difratómetro de Shimadzu XRD-7000 (equipo de difraccion de rayos x) maneja la cuantificación de austenita residual, análisis cuantitativo ambiental, determinación precisa de celosía precisa, cálculos de grado de cristalinidad, tamaño de cristalita y cálculos de tensión de cristal, determinación del sistema de cristal, así como análisis de Rietveld y otra estructura de cristal basada en software análisis.

La adición de accesorios permite mediciones de tensión, mediciones en condiciones no ambientales y la Medición de muestras de película delgada. La nueva etapa R-θ grande desarrollada permite el mapeo de estrés automático de una muestra completa hasta 350 mm de diámetro.

Los nuevos difractómetros (Difraccion de Rayos X) Shimadzu de la serie XRD-7000 cuentan con un goniómetro θ-θ vertical de alta precisión y son capaces de manejar enormes muestras que los instrumentos convencionales – hasta W400 × D550 × H400mm.