Espectrómetro de Fluorescencia de Rayos X
Somos la compañía lider en venta, renta y servicio de Espectrómetro XRF en México. Contacte con un expertoEspectrometría e Instrumentación lleva más de 4 décadas siendo los pioneros en Espectrometro de Fluorescencia de Rayos X XRF.
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Detecta elementos traza a niveles de
hasta 0.1 ppm, garantizando la
calidad y seguridad de sus productos.
Compatible con diversas aplicaciones en la industria.
Ideal para empresas que buscan
optimizar sus procesos de control de calidad y análisis elemental.
Materiales eléctricos y electrónicos
- Detección de RoHS y halógenos
- Análisis químico de películas delgadas para semiconductores, discos, cristales líquidos y células solares
Minería
- Análisis químico elemental de grado para procesamiento mineral
Automóviles y maquinaria
- Detección de elementos según ELV
- Análisis químico de composición, medición del espesor y peso de recubrimiento para piezas de maquinaria
Vidrio y cerámica
- Análisis químico de cerámica, cemento, vidrio, ladrillos y arcilla
Metales ferrosos/no ferrosos
- Análisis químico de componentes principales y análisis de impurezas de materias primas, aleaciones y soldaduras
- Análisis de composición de scrap
Químico
- Análisis químico elemental de materias primas y catalizadores
Directiva RoHS.
Cumplimiento de materiales peligrosos
Detección de halógenos y metales pesados
Decisiones rápidas y eficientes mejoran la productividad con
resultados precisos y
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ideal para usuarios con
cualquier nivel de experiencia.
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adaptándose a las necesidades de su industria.
Características
Alta resolución
Ofrece una resolución energética superior al incorporar un detector SDD de última generación. Reduce los efectos de los picos superpuestos de diferentes elementos, mejorando la fiabilidad de los resultados del análisis.
Características
Alta velocidad, alta sensibilidad y alta precisión
Equipado con un circuito de alta velocidad que aumenta la tasa de conteo. Algoritmos y un rendimiento mejorado también ayudan a reducir los tiempos de medición.
Características
Rango de elementos detectados
Gracias a la nueva tecnología de su detector SSD alcanza a medir elementos desde (Na) hasta (U) con límite de detección de hasta 0.1ppm sin necesidad de Nitrógeno líquido
Conoce la serie EDX
Compatible con nuevas directivas para el cumplimiento de normativas como RoHS/ELV, con kits de análisis de detección exclusivos.
Aprende más de nuestros Instrumentos
Preguntas Frecuentes
¿Qué tipo de muestra se puede analizar?
Algunos ejemplos de los numerosos tipos de muestras que se pueden analizar con el equipo:
- Electrónica y materiales semiconductores:
- Análisis de metales y materiales utilizados en la fabricación de componentes electrónicos, como circuitos impresos, semiconductores, etc.
- Metales y aleaciones:
- Acero, hierro, aluminio, cobre, níquel, titanio, entre otros.
- Aleaciones metálicas, como aceros inoxidables, aleaciones de aluminio, bronce, latón, etc.
- Minerales y geología:
- Muestras de minerales, como cuarzo, feldespato, calcita, yeso, entre otros.
- Rocas y suelos, como granito, basalto, arenisca, arcilla, suelos agrícolas, etc.
- Materiales cerámicos y vidrio:
- Azulejos, cerámica para uso industrial o doméstico.
- Vidrios de distintas composiciones y aplicaciones.
- Productos químicos y farmacéuticos:
- Análisis químico de productos químicos, como pigmentos, catalizadores, aditivos, etc.
- Identificación de elementos en productos farmacéuticos y cosméticos.
¿Qué preparación de muestras requiere?
La preparación de muestras en laboratorio puede variar dependiendo del tipo de muestra y los requisitos específicos de análisis. Se deben considerar los siguientes puntos:
- Selección y representatividad de la muestra:
- La muestra debe estar homogeneizada para garantizar una distribución uniforme de los elementos en toda la muestra.
- Molienda y homogeneización:
- Si la muestra es sólida, se muele hasta obtener un tamaño de partícula fino y se homogeneiza para garantizar una distribución uniforme de los elementos.
- Prensado de la muestra (opcional):
- Especialmente para muestras en polvo, puede ser necesario prensar la muestra en una pastilla o disco sólido para facilitar la manipulación y la medición con el equipo.
- Preparación de la superficie de la muestra (opcional):
- Para muestras metálicas u otras muestras sólidas, es posible que se requiera preparar la superficie de la muestra para eliminar óxidos, recubrimientos u otras impurezas que podrían afectar la medición.
- Esto puede implicar el pulido de la muestra con papel de lija fino o el uso de una pulidora.
- Colocación en portamuestras:
- La muestra preparada se coloca en un portamuestras adecuado para su análisis en el espectrómetro XRF. El portamuestras puede ser de diferentes materiales, como película delgada de mylar o polipropileno, o porta pastillas.
- Calibración y estándares (opcional):
- Antes de realizar el análisis, se puede calibrar el espectrómetro utilizando estándares de referencia con composiciones conocidas.
- Estos estándares ayudan a correlacionar la intensidad de la señal medida con la concentración de los elementos en la muestra.
Tiempo de análisis
La cantidad de muestras que se pueden analizar por corrida en un espectrómetro de fluorescencia de rayos X (XRF) depende de los requisitos específicos de análisis. Aquí hay algunos puntos a considerar:
Tiempo de análisis: El tiempo de análisis por muestra puede ser programado dependiendo de las precisión requerida, siendo un aproximado de 2 a 5 minutos.
Tamaño de la muestra: El tamaño físico de las muestras puede limitar la cantidad que se puede colocar en el portamuestras del instrumento.
Torreta portamuestras (opcional): El equipo está diseñado para analizar una sola muestra a la vez. Sin embargo, puede estar equipado con portamuestras que permite analizar hasta 12 muestras en una sola corrida.
¿Cuanta precisión tiene?
El espectrómetro XRF suele tener una precisión bastante alta en la determinación de la composición elemental de las muestras. Con la calibración adecuada del instrumento y el uso de estándares de referencia pueden mejorar la precisión de las mediciones.
El límite de detección más bajo varía dependiendo de la matriz de la muestra. Puede detectar con precisión de 100 ppm elementos 11Na y 12 Mg, con precisión de 10 ppm elementos 13 Al a 17 Cl, con precisión de 1 ppm elementos 18Ar a 29 Cu, con precisión de 0.1 ppm 30Zn a 92U.
¿Requiere de otros accesorios o consumibles?
Según su aplicación pueden requerir el uso de una bomba de vacío o purga de helio como accesorio.
Bomba de vacío: Para crear un ambiente de baja presión dentro del instrumento, minimizar la interferencia de la atmósfera y mejorar la detección de los rayos X generados por la muestra en elementos livianos como 11Na a 15P en muestras sólidas o prensadas.
Purga de helio: El helio se introduce en la cámara de detección para eliminar el aire y mejorar la detección de los rayos X emitidos por la muestra cuando se desea analizar elementos livianos como 11Na a 15P en muestras líquidas o polvos no prensados.
El detector SDD es capaz de refrigeración electrónica. Entonces no es necesario utilizar nitrógeno líquido, reduciendo los costos operativos.
¿Cómo realizan el servicio de mantenimiento?
El servicio de mantenimiento es llevado a cabo por técnicos especializados por el fabricante japones Shimadzu. Al finalizar el servicio, el técnico proporciona un informe detallado que resume las actividades realizadas, los resultados de las pruebas de rendimiento, y cualquier recomendación adicional para el cuidado y mantenimiento del instrumento.
Es importante realizar el mantenimiento periódico del espectrómetro XRF para garantizar su rendimiento óptimo y prolongar su vida útil.
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