Difractometros de Rayos X en Mexico
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Difractómetro XRD-7000
Además del análisis cualitativo y cuantitativo básico, el difratómetro de Shimadzu XRD-7000 (equipo de difraccion de rayos x) maneja la cuantificación de austenita residual, análisis cuantitativo ambiental, determinación precisa de celosía precisa, cálculos de grado de cristalinidad, tamaño de cristalita y cálculos de tensión de cristal, determinación del sistema de cristal, así como análisis de Rietveld y otra estructura de cristal basada en software análisis.
La adición de accesorios permite mediciones de tensión, mediciones en condiciones no ambientales y la Medición de muestras de película delgada. La nueva etapa R-θ grande desarrollada permite el mapeo de estrés automático de una muestra completa hasta 350 mm de diámetro.
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